礦石品位測(cè)試儀采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管、無(wú)壓電源線、無(wú)RF噪音、更好的X射線屏蔽。結(jié)構(gòu)更精密,縮短了射線管、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離,某些應(yīng)用信號(hào)提了~40%,測(cè)試礦石品位儀器設(shè)備SDDX射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-PinX射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。礦石品位測(cè)試儀的技術(shù)性能:真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。只需將礦石分析儀直接接觸待測(cè)礦石表面,無(wú)須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定礦石等級(jí)。被檢測(cè)的...