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簡要描述:X射線電鍍厚度分析儀是一款利用X射線熒光原理精確測量電鍍層厚度的專業(yè)設(shè)備。它通過發(fā)射X射線激發(fā)鍍層元素產(chǎn)生特征熒光,再經(jīng)探測器接收并分析信號強度,從而快速、無損地得出鍍層厚度。該儀器操作簡便,測量精度高,適用于金屬、合金等多種基材上的單層或多層鍍層檢測,是電鍍行業(yè)質(zhì)量控制的重要工具。
詳細介紹
X射線電鍍厚度分析儀
X射線電鍍鍍層厚度檢測儀是一款基于先進X射線熒光光譜技術(shù)的高精度檢測設(shè)備,專為電鍍行業(yè)鍍層厚度測量而設(shè)計,在保障產(chǎn)品質(zhì)量、控制生產(chǎn)成本等方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
該設(shè)備利用X射線管發(fā)射出高能X射線,照射到被測電鍍樣品表面。鍍層中的原子受到X射線激發(fā)后
,會釋放出具有特定能量的次級X射線,即熒光X射線。探測器會精準捕捉這些熒光X射線,并將其轉(zhuǎn)化為電信號。通過專業(yè)的分析軟件對這些信號進行處理和分析,依據(jù)熒光X射線的強度與鍍層厚度之間的定量關(guān)系,從而精確計算出鍍層的厚度。
高精度測量:具備好的測量精度,能夠精確到微米甚至納米級別,可滿足不同行業(yè)對鍍層厚度的嚴苛要求,確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和穩(wěn)定性。
無損檢測:檢測過程無需破壞樣品,不會對電鍍產(chǎn)品造成任何損傷,這對于一些高價值、工件尤為重要,大大降低了檢測成本和風險。
快速高效:檢測速度極快,能夠在短時間內(nèi)完成對樣品的測量,并即時顯示測量結(jié)果,有效提高了生產(chǎn)效率,減少了檢測環(huán)節(jié)對生產(chǎn)流程的干擾。
多元素分析:不僅可以測量鍍層厚度,還能同時分析鍍層中的元素組成和含量,為電鍍工藝的優(yōu)化提供全面的數(shù)據(jù)支持。
廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、五金制品等多個行業(yè)。在電子行業(yè),用于檢測印刷電路板、連接器等電子元件的鍍層厚度;在汽車行業(yè),可對汽車零部件的鍍鋅、鍍鉻層進行質(zhì)量控制;在航空航天領(lǐng)域,對于保障飛行器關(guān)鍵部件的耐腐蝕性和性能穩(wěn)定性至關(guān)重要。
主要由X射線管、探測器、樣品臺、控制系統(tǒng)和分析軟件等部分組成。各部分協(xié)同工作,確保設(shè)備能夠穩(wěn)定、準確地完成鍍層厚度檢測任務(wù)。
以下是X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹:
鍍層檢測:
常見金屬鍍層有:
鍍層
基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi),
可最小測量達0.001um。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
鍍層層數(shù)為1-6層
鍍層精度相對差值一般<5%。
鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
鍍層分析優(yōu)勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現(xiàn)鍍層與環(huán)保一機多用。
金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
檢測精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達1ppm。
對這些金屬測試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:
A. 檢測含量大于5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩(wěn)定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
測量精度:
1)精度(單層):
測厚儀的檢測精度表
Ni層厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數(shù)據(jù)與標樣板的實際數(shù)據(jù)作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)
2)兩層及以上:
兩層及以上的首層精度符合單層的測試結(jié)果,但是第二層以上比較復(fù)雜,要根據(jù)上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。
在 一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。
重復(fù)性:
保證重復(fù)性值:≤±5%
重復(fù)性的檢測應(yīng)在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續(xù)重復(fù)檢測,連續(xù)測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。
重復(fù)性=平均誤差÷平均值×100* %.
報告打?。?/span>
可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數(shù)據(jù)查詢方便
安全使用,維護與保養(yǎng)
由于儀器非常精密,未經(jīng)允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。
儀器安裝一定要平穩(wěn),儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。
請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。
進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
儀器環(huán)境要求:儀器使用環(huán)境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度≤80%,電源:AC: 220V ±5V。
以上細節(jié)均有可能造成無法預(yù)測后果,買方應(yīng)予以基本遵守。
X射線電鍍厚度分析儀
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